オクヤマ　カツシ   OKUYAMA KATSUSHI   奥山　克史    所属   朝日大学  歯学部 口腔機能修復学講座 歯科理工学    朝日大学  大学院 歯学研究科    職種   教授
発表年月日	2016/08/18
発表テーマ	イオンマイクロビームによる微量元索イメージング技術の高度化とその応用
会議名	第11回先進原子力科学技術に関する連携重点研究討論会
学会区分	研究会・シンポジウム等
発表形式	ポスター
単独共同区分	共同
発表者・共同発表者	山田尚人,土橋邦生,笠松哲光,櫻井映子,奥山克史,中井啓,原田聡,渡部創,古川純,石井慶造,岩田吉弘,加田渉,佐藤隆博
概要	細胞レベルの微小領域微量元索分析法である大気マイクロPIXE/PlGE 分析法を、医学、生物学、環境科学等の分野での応用について発表した。奥山分として、フッ化物含有材料が物理的な外力で脱離された場合のフッ素の残存程度を比較検討した結果、同じフッ素濃度を含有する材料でも材料の性状の連いにより残存程度に差が生じることを確認した。